DragonHD

　　测试便捷:裸板连接 USB 即可测试。

　　快速定位硬件连通性:能快速定位焊接不良的颗粒(如 4*8 的颗粒可定位到具体某颗焊接不良)。

　　测试时间短:1MIN 可测试完一个 loop，可迅速测试出稳定性一般的 case(这些 case 上系统老化测试

　　可能需要几小时才能 detect 出)。

　　调试问题便捷，对 DRAM 不稳定的板卡，工具端迭代修改参数测试，较上系统验证节省 90%的时

　　间(上案桌系统修改参数验证一轮短则 10 分钟长则几小时，工具端不到 3 分钟)。

　　打开工具后，界面可分为4个区域

　　区域1：操作区，工具的基本操作包含设置DDR clk频率，设置循环次数和启动/停止测试。

　　区域2：平台用例区，选择平台后该区域显示选定平台的所有用例，用户可屏开，收缩和勾选需要测试的用例。

　　区域3：测试信息区，该区域显示设备测试进度，测试状态，测试结果和过程日志信息。

　　区域4：软件功能区，包含的操作包含打开配置模版，保存配置模板，更新升级，退出软件。

　　勾选平台/用例：点击平台下拉选择框选定要测试的设备平台，区域2将显示选定平台的所有用例，用户勾选所需测试的用例后，点击“启动”按钮工具即进入设备检测状态。：

　　插拔设备

　　工具进入设备检测状态后即可插入待测试设备，样机按量产方法使设备进入测试状态，运行前必须不能同时运行其他烧录工具如phoenixsuit。首次使用的USB接口将会被记录关联，最多关联16个USB接口，用户必须在USB接口首次关联后记下USB口与设备号的关联ID，并在USB接口标记该ID号，如下图插入设备后被关联的设备ID为1(设备1的显示由灰变黑)，即在该USB接口贴上标号：1。此后从此USB接口插入的设备信息都将记录在“设备1”一行。

　　注：USB接口的关联与机器相关，如需将工具打包发送或者需要清空关联信息重新关联，请退出工具并删除工具目录下名为fels. bin的文件。

　　工具局限性

　　因为测试时间短无法 cover 到所有不稳定的 case，这些 case 可能需长时间老化测试才能暴露问题，所以本工具不能代替 DRAM 老化测试。

　　工具主要测试的是 DRAM 的 IO 性能，对 DRAM 内部 CELL 的物理特性测试有一定局限性(这部分测试主要靠 DRAM 原厂保证)，所以测试工具如作为黑片筛选有一定风险。